Seiko Instruments Inc.
検索 ホームEnglishChinese
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
新着情報 ???? 製品情報 技術情報 販売チャネル 企業情報 お問い合わせ
イベント
スクール
熱分析
Transparent Spacer
走査型プローブ顕微鏡
Transparent Spacer
ICP発光分光・質量分析
Transparent Spacer
蛍光X線分析
Transparent Spacer
膜厚測定
トップイベント情報 > 過去のイベント情報 > イベント情報詳細
Events
2008年2月1日

nano tech 2008 出展のご案内


 エスアイアイ・ナノテクノロジーは2008年2月13日(水)から3日間、東京ビッグサイトにて開催される国際ナノテクノロジー総合展・技術会議「nano tech 2008」に出展します。
  当社は、年々ニーズが高くなってきているナノテクノロジーの観察や加工の分野に、強力なナノテク支援装置をご提供してまいりました。今回の出展においても、イオンビーム技術、電子ビーム技術、プローブ顕微鏡技術などを軸に、お客様の高度な新ニーズに幅広くお応えする最高性能の装置を取り揃え、ご紹介いたします。

【開催概要】
会期:

2008年2月13日(水)〜15日(金)
10:00〜18:00(最終日のみ17:00まで)

会場: 東京ビッグサイト 東4・5・6ホール&会議棟
地図
入場料: 3,000円
招待券持参またはオフィシャルサイトでの事前オンライン登録にて無料で入場いただけます


【SIIナノテク出展概要】
ブースNo.:

東5ホール E-24

出展製品: 走査型プローブ顕微鏡
次世代SPM"NanoNaviシリーズ"を実機展示にてご紹介します。
・NanoNaviステーション(プローブステーション)
・S-image(多機能型ユニット)
・E-sweep(環境制御型ユニット)
・L-traceU(大型ステージユニット)
集束イオンビーム装置
ドイツ カールツァイス社と共同で開発したFIB-SEM複合装置をご紹介します。
・XVision200/300(FIB-SEM複合装置)
・NVision40(FIB-SEM複合装置)
電子顕微鏡
極低加速電圧観察で定評のあるカールツァイス社製走査電子顕微鏡をご紹介します。
・Ultra55(走査電子顕微鏡)
・SUPRA40 VP(走査電子顕微鏡)
蛍光X線膜厚計
微小部測定に最適の高性能装置を実機展示にてご紹介します。
・SFT9500(高性能蛍光X線膜厚計)
その他
AFMピンセットなどの実機展示を予定しています。

詳しくは、nano tech 2008オフィシャルサイトをご覧下さい。


Backイベント情報トップへ
SIIホーム
■ 個人情報保護ポリシー   ■ サイトマップ
Copyright © 2008 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.