【開催概要】

日時:	2008年7月17日（木）　10:30〜17:30 第1部『SPM熱・機械物性の定量化への展開』 第2部『温度制御とナノ物性マッピング』
	2008年7月18日（金）　10:00〜17:10 第3部『観察と計測のための要素技術と応用事例』 第4部『SPM電磁気物性への展開』
会場:	新宿明治安田生命ホール（東京・新宿区）
定員:	各250名
参加費用:	無料
内容:	<1日目> 第1部　『SPM熱・機械物性の定量化への展開』 近年、要望が増えてきた、SPMによる物性の定量化という課題に対して、熱・機械物性についての取り組みを中心に、ご講演いただきます。 第2部　『温度制御とナノ物性マッピング』 SPMの活躍が期待されるナノ物性マッピングの分野について、熱物性・機械物性を中心に、温度制御下での測定もまじえて、ご講演いただきます。 プログラムはこちらから
	<2日目> 第3部 『観察と計測のための要素技術と応用事例』 2007年、SPMを用いた初のJIS規格が制定されました。今回は、この新しいJIS規格*についてご講演いただくとともに、弊社SPMの新機能をご紹介いたします。また、高精度な形状測定を実現するための、様々な取り組みについてもご講演いただきます。 *JIS R1683-2007 第4部 『SPM電磁気物性への展開』 SPMを用いた電磁気物性の最新の研究例や新しい測定手法について、各分野の講師の皆様にご紹介いただきます。 プログラムはこちらから
お申込み:	<SPMセミナー2008:　オンラインフォーム> *オンラインフォームからの受付を終了いたしました。参加を希望されるお客様は、お手数ですが下記担当までご連絡ください。

【ポスターセッション開催概要】
同時にポスターセッションも企画をしております。詳細は下記をご覧ください。

日程:	7月18日（金） 1日のみ開催
発表内容:	9件の発表を予定しています。 発表タイトルはこちらから
お申込み:	応募数が定員に達したため、ポスター受付を終了いたしました。 沢山のご応募、ありがとうございました。

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