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2007年6月7日

《大阪会場》走査型プローブ顕微鏡 最新応用技術セミナー開催のご案内


走査型プローブ顕微鏡(SPM)の市場では、半導体をはじめ金属、ガラス、セラミックスなどの無機材料、樹脂やプラスチックなどの高分子材料から、細胞や細菌などの生体組織にいたるさまざまな物質表面の形状や物性を高分解能に測定する要求が増えてきています。


 本セミナーでは、弊社が開発した最新の測定技術、アプリケーション事例をご紹介いたします。セミナー当日は、営業をはじめアプリケーションラボ・開発技術スタッフも多数出席いたしますので、専門的なご質問もどうぞお寄せください。皆様のご参加を心からお待ち申しあげております。

 

【開催概要】

日時:

2007年7月20日(水) 13:00〜17:05

プログラム:

13:00〜14:00

「ハイアスペクト形状測定評価」 分析応用技術部
14:00〜15:00

「高分子材料のモルフォロジー評価」 分析応用技術部

(休憩) 

15:10〜16:10

「SPMによる電磁気イメージング」 分析応用技術部

16:10〜16:25 「新製品紹介」 営業部
16:25〜16:55 デモルームにて実機見学
16:55〜17:05 アンケート

会場:

【大阪会場】
〒560-0083 大阪府豊中市新千里西町1-1-4
千里中央ツインビル別館
Tel: 06-6871-8453
地図
※ なお、会場には駐車場のご用意がございません。恐れ入りますが公共の交通機関をご利用になりご来場頂けますようお願い申しあげます。

定員: 20名
参加費用: 無料

申込方法:

下記オンライン申込みフォームにてお申込み下さい。
なお、お申込は複数名参加の場合もお一人様ずつお願いいたします。

【オンライン申込フォーム】
・お申込は終了いたしました


※1 申込み締切日前においても定員に達し次第締め切りますので、お早めにお申込み下さい。
※2. 受付が完了した方は、開催日の1週間前より受講票を順次FAXにてお送りいたします。セミナー当日は、受講票を必ずご持参ください。

お問合せ:

エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
分析応用技術部 応用技術二課 SPM担当者
Tel:06-6871-8453

※お申込みの際ご提供いただいた個人情報は本セミナーについてのご連絡、ならびにセミナー内容に関連したご案内に利用させていただきます。当社の個人情報保護の取り組みについては 個人情報保護ポリシー をご覧ください。

 

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