セイコーインスツルメンツ株式会社（略称: SII、社長: 入江昭夫、本社: 千葉県千葉市美浜区中瀬1-8、TEL: 043-211-1111）科学機事業部の試験所は、10月21日、試験所認定機関である財団法人日本適合性認定協会（略称: JAB、本社: 東京都品川区大崎）から、試験所認定に関する国際規格ISO/IEC17025（JIS Q 17025）に適合していることが認められました。

近年、電子部品の高密度化、加工部品の微細化といった軽薄短小の傾向は一層加速しており、それに伴い表面処理としてのメッキ厚さ管理も高い精度が要求されています。自動車、電子機器など、あらゆる製品の信頼性に大きく影響を与えるこれら表面処理皮膜の厚さコントロールの重要性は一層高まっています。SIIでは、電子部品のメッキ等の膜厚を測る装置を製造販売しており、シェアは70%を占め、薄膜測定に際して、機器校正^注1に不可欠な厚さ標準物質の試験にも、その精度、信頼性が求められています。

今回の試験所の認定範囲として、新規に厚さのジャンルを設定し、JIS規格である蛍光X線式試験法と合わせて、重量法(金属箔の面積および質量から厚さを試験する一連の試験方法)と言うSII独自の測定方法を含んでいます。今まで社内規格であった重量法を含め、 金属皮膜厚さ試験の仕組みおよび試験値が国際的に認知されることにより、厚み測定のトレーサビリティ^注2が確立した手法および結果として認められただけでなく、試験所で実施した一度の試験で、世界中どこでも受け入れられる状況（One-Stop-Testing）を確保する事が出来ます。

注1） 計測機器に表示される値と、それに対応する既知の値（国際標準など）との関係を、特定の条件下で確認する一連の操作
注2） 標準機または計測器が、より高位の測定標準によって次々と校正され、国家標準・国際標準につながる経路が確立されている事

認定取得: ISO/IEC17025 認定範囲: 機械・物理試験 登録番号: RTL01200 登録組織: セイコーインスツルメンツ株式会社 科学機器事業部 試験所 登録日: 2002年10月21日 認定機関: 財団法人 日本適合性認定協会

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