松下電器産業株式会社 パナソニックAVCネットワークス社と、エスアイアイ･ナノテクノロジー株式会社は共同で、蛍光X線分析法による、工場等の生産現場で運用可能な高速・高精度有害物質測定システムを業界で初めて開発・実用化いたしました。

【効　果】
本システムは、測定物の構成元素や構成比に依存することなく簡単かつ従来比で最大1/20の時間で効率的に有害物質の含有量を測定することが可能です。これにより、生産現場において、誰でも簡単に、低コストでの部品検査を実現いたします。

【特　長】
1. 試料組成に応じ、最適な時間で測定を行うため、効率的かつ高精度の測定を実現。
2. 測定結果の自動判定を実施、専門知識が不要な簡単オペレーションを実現。
3. RoHS指令のみならずWEEE、ELV等の各種有害物質規制法に対応。また、他の有害物質測定にも応用が可能。

【内　容】 　本システムは、以下の新技術により実現しました。
（1） 測定中リアルタイムに精度（ばらつき）を監視し、必要最小限の時間で測定を終了する測定終点検出技術。
（2） 測定値、測定精度を独立して基準値と比較する、自動判定アルゴリズム。
（3） 対象物質の追加、変更を容易にするシステムモジュール化設計技術。

【従来例】
現行の蛍光X線分析装置は、マニュアルで操作および判定を行うため、経験が必要であり、生産現場での利用は困難でした。また測定も経験に頼る部分が多いため、精度を重視する場合、効率的な測定は困難でした。

【実用化】
2004年12月以降、松下電器産業株式会社　パナソニックAVCネットワークス社の各工場より導入を開始し、今後実運用を推進します。

【製品化】
本技術を用いた測定システムは、エスアイアイ・ナノテクノロジー社製の蛍光X線分析装置SEA2200シリーズ、SEA1000Aシリーズに導入し、2004年12月より同社が販売します。

【特　許】
国内　７件　（出願中を含む）

【問合せ先】　
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
マーケティング推進部 EA推進営業課 田中
Tel：06-6871-8453