エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社の子会社であるSII NanoTechnology USA Inc. （SIIナノテクUSA）は10月14日、蛍光X線検出器事業を行っているRadiant Detector Technologies, LLC（Radiant社）の事業を SIIナノテクUSAが譲り受けることで合意し、資産譲受契約を締結しました。これによりSIIナノテクUSAはRadiant社のX線検出器事業に関連する全ての知的財産権と、設備ならびに従業員を継承し、11月1日より同事業の営業を開始いたします。

　エスアイアイ・ナノテクノロジーは1970年に蛍光X線膜厚計の開発・製造を開始して以来、35年に渡って蛍光X線分析装置、蛍光X線膜厚計の開発・製造・販売に携わってきました。1988年には自社開発の半導体検出器で微小部対応の蛍光X線膜厚計、1999年には小型で可搬性の高い蛍光X線分析装置、2004年には液化窒素不要の有害物質モニターを製品化するなど、蛍光X線分析技術を用いて幅広い製品を展開してきました。

　Radiant社は2001年Jan. S. Iwanczyk, Ph.D. とBradley E. Patt, Ph.D.によって米国カリフォルニア州に設立され、シリコンドリフト型X線検出器の開発、製造、販売を行ってきました。Radiant社のX線検出器は、その大型サイズ、高計数率、優れた解像度、また、液化窒素が不要であることから、顧客である世界でも有数の産業装置メーカーならびに世界各国の国立研究所や研究施設から高い評価を得ています。

　当社では今回の事業譲受により蛍光X線分析における要素技術を拡充し、新製品開発のスピードアップ、競争力の強化を進め、環境分野を中心としたさらなるシェア拡大を目指してまいります。

【Radiant Detector Technologies, LLCの概要】（2005年10月13日現在）

SII ニュースリリース

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