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エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
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製品一覧
熱分析(DSC, TG/DTA, TMA, DMA)
SPM(走査型プローブ顕微鏡)
集束イオンビーム(FIB)/走査イオン顕微鏡
ICP発光分光・質量分析(ICP-OES/ICP-MS)
デバイス観察/フォトマスクリペア
蛍光X線分析
膜厚測定
透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡(TEM/SEM)
半導体製造支援ソフトウェア
X線検出器
プレクリニカル・イメージングシステム
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トップ製品情報
Products
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社は、製造業の開発・生産・検査などのキープロセスを支援するソリューション・カンパニーです。 分析・計測・観察の領域において、お客様のニーズに合ったソリューションを提供しています。

 熱分析
EXSTARシリーズは、オートサンプラ(DSC/TGA/DTA)各種冷却ユニット等を組み合わせられる拡張性のあるシステムです。
熱分析装置(DSC、TG/DTA、TMA、DMA)

 走査型プローブ顕微鏡(SPM)

環境制御装置からハイアスペクト対応装置まで幅広い装置を取りそろえております。
SPM(走査型プローブ顕微鏡)
 集束イオンビーム(FIB)/走査イオン顕微鏡(SIM)
分解能4nmを実現した高分解能集束イオンビーム装置。SEMとの複合タイプでは、1台の装置での高品位TEM試料作製を可能にしました。
集束イオンビーム(FIB)/走査イオン顕微鏡
 ICP発光分光/質量分析
シーケンシャルタイプ、マルチタイプのICP-OESとICP-MSの多彩なラインナップ。高感度測定と使いやすさの両立で、さまざまな元素分析をサポートします。
 デバイス観察/フォトマスクリペア
FIBフォトマスク欠陥修正装置、SPM型フォトマスク欠陥修正装置、液晶用フォトマスク欠陥修正装置など。
 蛍光X線分析
液化窒素レス、高精度測定、簡単操作など、さまざまなニーズを満たすWEEE&RoHS、ELV対応装置や、土壌中の有害物質測定の専用装置をラインナップ。
蛍光X線分析装置(EDX)
 膜厚測定
ベーシックモデルからデュアル検出器搭載のハイグレードモデルまで、幅広いニーズに対応するSFT9000シリーズ。

膜厚測定
 透過電子顕微鏡(TEM)/走査電子顕微鏡(SEM)
最先端技術を用いたTEM、SEMをラインナップ。

透過型電子顕微鏡(TEM)/走査型電子顕微鏡(SEM)
 半導体製造支援ソフトウェア
先端半導体用フォトマスクのデータハンドリング作業を効率化し、時間・コスト削減を実現する各種ソフトウェアをラインナップ。
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半導体製造支援ソフトウェア
 X線検出器
蛍光X線用、電子顕微鏡用の液化窒素レス・高計数率・高分解能対応のシリコンマルチカソード検出器、およびスペクトロメーター。
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X線検出器
 プレクリニカル・イメージングシステム
世界で初めてCT、PET、SPECTを一体化させたガンマ・メディカ・アイデアズ社の前臨床用画像システム。
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プレクリニカル・イメージング・システム

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