SIIナノテクは、お客様のWEEE/RoHS/中国版RoHS/ELVなどの環境規制対応をサポートします。

RoHS・ELV対応の蛍光X線分析装置 「SEAシリーズ」の特徴を詳しく見る

SEA6000VX HSFinder 1台でRoHS/ELV対応のスクリーニングから高度な分析までをカバーできる蛍光X線分析装置です。 当社独自の液化窒素レスの高計数率検出器 Vortex の搭載と、X線発生系の新規設計により、従来機種に比べ10倍以上に感度を向上させています。それにより、0.5mm〜1.2mm程度の微小エリアでも測定時間を短縮しました。 この微小部測定における感度向上と高速電動ステージの組み合わせにより、二次元元素マッピングの高速化を実現しました。

SEA1200VX エレメントモニタ 1台でRoHS/ELV対応のスクリーニングから高度な分析までをカバーできる蛍光X線分析装置です。高感度・高分解能、さらに高計数率を独自開発で実現した蛍光X線検出器「Vortex」を搭載しています。これにより飛躍的な感度の向上を実現しました。また、精度管理型ソフトとの併用で、測定時間を最大1/30に短縮できます。

SEA1000AⅡ HS（有害物質モニタ） SEA1000AⅡは、RoHS指令の施行により使用禁止されるカドミニウム、鉛、水銀等の有害物質を簡単・迅速に非破壊で測定できる専用機です。また液化窒素不要の検出器を搭載していますので、定期的な補給の手間が要らず、液化窒素の調達の難しい海外工場においても電源のみで使用できます。

SEA2200A シリーズ HS（有害物質）モニタ EU（欧州連合）のRoHS指令対応モデルです。SEA2200Aは、測定試料の形状・厚さ・材質による影響を最小限に抑える補正ソフトを標準装備し、プラスチック製品中のカドミウム・鉛等の有害物質をほとんど前処理なしで簡単・迅速に測定できますので、大量の調達品の検査にも使用できます。

SEA5120A マイクロエレメントモニタ 直径50μmφの微小部の定性分析・多元素同時定量分析が可能です。X線フィルタ搭載で、WEEE&RoHS規制対象のCd、Pb等の有害物質も高感度で測定できます。試料観察用のCCD顕微鏡とX・Y・Z自動ステージ搭載で、極微小部の分析や元素ごとのマッピング像も表示出力可能です。さらに異物検査やメッキ膜厚計の機能も備えています。

WEEE/RoHS/中国版RoHS/ELV対応製品 （ICP発光分光分析装置）

全4製品

ICP発光分光分析装置（ICP-OES/AES）は、RoHS、中国版RoHs、ELVといった環境規制にお いて、公定法で認められている精密分析装置です。対象元素をppb（10億分の一）の レベルで定量分析することが可能で、環境規制対応ではスクリーニングで基準値 を超えた試料の検証分析や、蛍光X線分析で用いる標準物質の値付けに用いられ ています。 ISO/IEC17025試験所認定取得のSIIナノテクでは、豊富なノウハウに基づいた分 析ソリューションを提供しています。

SPS7800 シリーズ 卓上型ICP発光分光分析装置 卓上型のICP発光分光分析装置です。ダブルモノクロメータ構成と分散素子にエッシェル回折格子を採用している為大型分光器に匹敵する高分解能が得られ、各種材料分析等幅広いニーズに対応出来ます。

SPS3100HV UV ICP発光分光分析装置 新開発の分光器により130nm〜160nmまでの測定波長領域を広げ、VUV領域における塩素（134nm）や臭素（154nm）といったハロゲン元素の高感度測定を可能とした装置です。

SPS3100 シリーズ ICP発光分光分析装置 分解能/スループット/精度等多様化するニーズに対応出来るよう、各ユニットをモジュール化しシステム構築の選択が容易になりました。更に設置スペースでも装置の小型化により有効活用が出来る新発想のシステム型ICP発光分光分析装置です。

SPS5500シリーズ CCD多元素同時型ICP発光分光分析装置 高速測定を実現するCCD（電荷結合素子）検出器であるV-Chipを搭載したICP発光分光分析装置です。装置構成の最適化、ならびに機能充実のオプションとソフトウェアを取りそろえることで、高速・高感度分析と測定の安定性、使いやすさを実現しました。

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