Seiko Instruments Inc.
検索 ホームEnglishChinese
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
新着情報 イベント 製品情報 技術情報 販売チャネル 企業情報 お問い合わせ
製品情報
製品一覧
熱分析(DSC, TG/DTA, TMA, DMA)
SPM(走査型プローブ顕微鏡)
集束イオンビーム(FIB)/走査イオン顕微鏡
ICP発光分光・質量分析(ICP-OES/ICP-MS)
デバイス観察/フォトマスクリペア
蛍光X線分析
膜厚測定
透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡(TEM/SEM)
半導体製造支援ソフトウェア
X線検出器
プレクリニカル・イメージングシステム
価格問い合わせ
価格問い合わせフォーム
消耗品価格表
技術情報
販売チャネル
試験所
トップ環境規制
RoHS, ELV, 中国版RoHS等の環境規制の解説や、有害物質の測定事例を集めた、SIIナノテクの環境規制総合情報

〜RoHS、ELV、中国版RoHS、EN71〜
環境規制とSIIナノテクの製品・サービス

RoHS、ELV、中国版RoHSに代表される有害物質規制や、玩具や食器などへの有害物質混入事件などを背景に、環境や人体に悪影響を及ぼす恐れのある有害物質について、サプライチェーン全体を通して適切に分析・測定し、管理することが急務となっています。

SIIナノテクでは、簡単迅速に有害物質を測定するための蛍光X線分析装置と、微量な有害物質を高感度に測定できる精密検査装置として公定法でも定められているICP発光分光分析装置・ICP質量分析装置を取り揃え、製品の環境規制対応、安全性確保、グリーン調達といった、お客様の取組みをサポートしています。

 

環境規制の概要

RoHS指令をはじめとする、電気・電子機器や玩具などを対象とした、世界の主な環境規制(有害物質規制)について、簡単に解説しています。

RoHS指令など環境規制の概要
• WEEE指令 • プロポジション65
• RoHS指令 • REACH
• 中国版RoHS指令 • ELV指令
• EN71 Part3  


環境規制対応装置のご紹介

RoHS指令等の環境規制に基づく、受入・出荷検査や品質管理に広く用いられているSIIナノテクの蛍光X分析装置とICP発光分光分析装置の使いやすさと性能についてご説明します。

環境規制対応装置のご紹介
• 蛍光X線分析装置 6つの特徴を見る
• 環境対応支援装置ラインアップ


環境規制物質の測定事例

鉛フリー化やハロゲンフリー化、RoHS、ELV、中国版RoHS対応、玩具(おもちゃ)や食器等の生活関連製品の安全性チェックなどの参考となる事例集です。

環境規制対応装置のご紹介 部品の受入検査や製品の出荷検査に広く使われている高感度型蛍光X線分析装置「SEA1200VX」を用いた、鉛(Pb)、カドミウム(Cd)、クロム(Cr)、臭素(Br)など、環境規制の対象となっている有害物質の測定事例を紹介します。


(1) 繰返し再現性向上の事例
(2) はんだ試料中の有害物質測定例
  • 鉛フリーはんだ中の鉛(Pb)
  • 測定時間100秒における繰返し再現性
  • 実試料への適用例
(3) 黄銅試料中の有害物質測定例
  • 黄銅中の鉛(Pb)測定
  • 黄銅中のカドミウム(Cd)測定
  • 黄銅中のクロム(Cr)測定
  • 測定時100秒における繰返し再現性
(4) アルミ合金試料中の有害物質測定例
  • アルミ合金中の鉛(Pb)測定
  • アルミ合金中のカドミウム(Cd)測定
  • アルミ合金中のクロム(Cr)測定
  • 測定時間300秒における繰返し再現性
(5) 金属測定における形状補正
(6) 薄膜中の鉛(Pb)の測定例
  • 無電解ニッケルめっきの測定例
  • 鉛フリーはんだめっきの測定例
(7)

めっき試料の測定例
  • 複雑な形状の試料への適応

(8) 真空での塩素(Cl)の高感度測定
(9) 大気での塩素(Cl)測定
(10) プリント配線基板の測定
  • 樹脂製品のハロゲンフリー化
  • 樹脂中の微量塩素(Cl)の測定
(11) RPF(Refuse Paper & Plastic Fuel )測定事例 
  • RPF中の塩素測定
  • RPF測定向け標準物質

当社ではこの他にも、環境規制に関連したアプリケーションをご紹介しています。
「環境」アプリケーションへ

SIIホーム
■ 個人情報保護ポリシー   ■ サイトマップ
Copyright © 2008 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.