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RoHS, ELV, 中国版RoHS対応から玩具, 食器の検査まで、有害物質測定は、SIIナノテクの蛍光X線分析装置にお任せください
| RoHS、ELVや、2007年3月より施行された中国版RoHS指令(電子信息産品汚染防治管理弁法)をはじめとする環境規制で使用が制限されている物質の含有量を検査するため、非破壊でスピーディな分析が可能な蛍光X線分析装置が広く用いられています。 使い勝手のよさと感度・分解能を徹底的に追求したSIIナノテクの蛍光X線分析装置は、部材の受入れ検査から製品の出荷検査まで、あらゆる場面における環境規制対応をサポートします。 |
RoHS/ELVに適した理由1: 非破壊での検査が可能 |
蛍光X線分析装置の最大の特徴は、測定対象を 前処理する必要がなく、そのまま測ることができる点にあります。SIIナノテクの蛍光X線分析装置は、最大で 430(W)x320(D)x200(H)の大型試料室を搭載。 プラスチック成型品やノートパソコンも、分解することなく測定できます。
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■SEA1200VXの大型試料室 |
| RoHS/ELV対応モデルには液化窒素不要の検出器を搭載しているため、補給作業は不要です。特に液化窒素の入手が困難な海外での利用に最適。コスト、安全性の面でも安心してお使いいただけます。(SEA1000AⅡ、SEA1200VX、SEA6000VX、SFT9500) |
RoHS/ELVに適した理由3: 測定時間を大幅に短縮
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| SIIナノテクの蛍光X線分析装置は、従来の装置イメージを払拭する高感度化を実現しています。 高感度化により測定時間短縮が可能となり、数多くの部材をスピーディに検査することができます。精度管理型の「有害物質判定ソフト*」と併せてお使いいただくことで、測定効率が一層アップします。 |

■無電解Niめっき中のPbのスペクトル
【測定試料】 Ni-P(Pb) 13µm/Al
【測定条件】 測定面積 :8.0mmφ、測定時間 :100sec, 20sec、10回測定
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RoHS/ELVに適した理由4:
わかりやすく使いやすいインターフェイス |
RoHS/ELVに適した理由5:
難易度の高い測定も、自動補正機能がサポート |
測定試料の形状や厚さによる影響や、ポリ塩化ビニル(PVC)測定時の塩素による影響も補正し、安定した測定を実現します。 ピーク分離ソフトを内蔵することで、隣接する元素の影響も除去することができるようになりました。
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■塩ビ(PVC)補正
検量線法を使用した場合、試料の塩素濃度によって測定値が大きく変動します。 |

■Si(Li)検出器のスペクトル |

■デジタルピーク分離ソフトイメージ
軟質PVCに大量のPbを含有したときのHg200ppmスペクトル |
・サンプルチェンジャを使用することで、12個の試料を自動的に測定することができます。(オプション)
・汎用分析装置として、幅広い分析が可能です。 (SEA1200VX、SEA2210A、SEA5210A) |
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・液化窒素が不要なため、液化窒素の製造・運搬時に発生していた二酸化炭素の排出量削減に貢献しています。
・測定スピードの効率化により、消費電力を削減し、省エネルギー化を実現しています。
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[*有害物質判定ソフト]
あらかじめ、測定値の精度(ばらつき)の許容範囲を設定し、その値よりも測定ばらつきが小さくなった時点で測定を終了することにより、効率的に測定を行います。
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■精度管理ソフトの仕組み(上段:通常測定、下段:精度管理測定)
SIIナノテクのRoHS/ELV対応蛍光X線分析装置 ラインナップ
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•SEA6000VX
大幅に向上した感度と、高速電動ステージの組み合わせによる高速元素マッピング機能搭載モデル。 |
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•SEA5120A
RoHS対応に加え、微小部分析や膜厚測定まで対応が可能な高機能モデル。 |
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•SFT9500
X線集光系と高感度高計数率検出器搭載の、微小部分析対応モデル。極薄膜の膜厚測定、組成分析や元素マッピングに対応。 |
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