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AFM（原子間力顕微鏡）とは
AFM(原子間力顕微鏡/Atomic Force Microscope）は、探針と試料に作用する原子間力を検出するタイプの顕微鏡です。
AFM（原子間力顕微鏡）とSPM（走査型プローブ顕微鏡）
STM（走査型トンネル顕微鏡/Scanning Tunneling Microscope）の誕生後、技術の発展に伴い、AFMを含む、形状・物性の観察・測定のためのさまざまなモードが開発されました。 学術的には、これらの顕微鏡機能を総称して、SPM（走査型プローブ顕微鏡/Scanning Probe Microscope）と呼んでいますが、一般にはSPMとほぼ同義として、AFMが用いられる場合もあります。
当サイトでのAFM（原子間力顕微鏡）情報
当Webサイトにおいては、AFM、STMなどを含む総称として、走査型プローブ顕微鏡（SPM）を使用しています。AFMに関する情報をお探しのお客様は、原理解説や多数の観察データが掲載されている、「走査型プローブ顕微鏡（SPM）総合情報ページ」をご利用ください。
AFMの原理解説は以下のリンクよりご覧いただけます。
AFMに関する情報も多数掲載のSPM総合情報ページは以下よりご利用ください。
【AFMに関するお問合せ】
AFMの導入やデモンストレーションに関するお問合せを受け付けております。
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
営業統括本部
TEL：03-6280-0062
オンライン問合せ
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