Seiko Instruments Inc.
検索 ホームEnglishChinese
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
新着情報 イベント 製品情報 技術情報 販売チャネル 企業情報 お問い合わせ
製品情報
製品一覧
熱分析(DSC, TG/DTA, TMA, DMA)
SPM(走査型プローブ顕微鏡)
集束イオンビーム(FIB)/走査イオン顕微鏡
ICP発光分光・質量分析(ICP-OES/ICP-MS)
デバイス観察/フォトマスクリペア
蛍光X線分析
膜厚測定
透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡(TEM/SEM)
半導体製造支援ソフトウェア(MDP)
X線検出器
プレクリニカル・イメージングシステム
価格問い合わせ
価格問い合わせフォーム
消耗品価格表
技術情報
販売チャネル
試験所

 走査型プローブ顕微鏡(SPM)

アプリケーション(分野別)

分野別・モード別に分かれ、更に便利になった観察事例集をご利用下さい。
(ご覧頂くには Adobe Acrobat Reader が必要です。)

【分野別
       

モード別アプリケーションはこちらから


 NEW 新着アプリケーション
SPI No.63
SPMによるハイアスペクト形状測定 -マイクロレンズの高精度断面プロファイル計測- 走査型プローブ顕微鏡の基本測定モード
SPI No.64
原子間力顕微鏡による氷の観察 走査型プローブ顕微鏡の基本測定モード
SPI No.65
AFMスクラッチによる氷の融解 走査型プローブ顕微鏡の基本測定モード

 原理
SP INo.1
走査型プローブ顕微鏡の基本測定モード 走査型プローブ顕微鏡の基本測定モード
SPI No.63
SPMによるハイアスペクト形状測定 -マイクロレンズの高精度断面プロファイル計測- SPMによるハイアスペクト形状測定 -マイクロレンズの高精度断面プロファイル計測-
SPI No.64
FIB加工面の低加速Arイオンビーム仕上げによる低ダメージ効果のSPMによる検証 FIB加工面の低加速Arイオンビーム仕上げによる低ダメージ効果のSPMによる検証
NPX No.10
観察装置による情報の違い(Nanopics) 観察装置による情報の違い(Nanopics)
NPX No.13
小振幅DFMでの観察1(Nanopics) 小振幅DFMでの観察1(Nanopics)
NPX No.15
小振幅DFMでの観察2(Nanopics) 小振幅DFMでの観察2(Nanopics)
NPX No.16
オプションソフトを使用した薄膜評価(Nanopics) オプションソフトを使用した薄膜評価(Nanopics)
NPX No.17
大きな試料の観察用ステージ(Nanopicis) 大きな試料の観察用ステージ(Nanopicis)
NPX No.18
校正プログラムご紹介(Nanopics) 校正プログラムご紹介(Nanopics)

 生体
SPI No.2
走査型プローブ顕微鏡によるプラスミドDNAの観察 走査型プローブ顕微鏡によるプラスミドDNAの観察
SPI No.3
走査型プローブ顕微鏡によるヒト赤血球のDFM観察 走査型プローブ顕微鏡によるヒト赤血球のDFM観察
SPI No.4
コラーゲン細繊維のDFM観察 コラーゲン細繊維のDFM観察
SPI No.5
ラット繊毛切片のDFM観察 ラット繊毛切片のDFM観察
SPI No.6
生きたガン細胞の直接観察 生きたガン細胞の直接観察
SP INo.43
水中における毛髪の表面形状観察 水中における毛髪の表面形状観察
NPX No.14
人の毛髪と羊毛のキューティクル形状観察(Nanopics) 人の毛髪と羊毛のキューティクル形状観察(Nanopics)
NPX No.22
染色体の形状観察(Nanopics) 染色体の形状観察(Nanopics)

 電気計測
SPI No.7
シリコン単原子ステップの観察 シリコン単原子ステップの観察
SPI No.8
Siウェハ上のCOP・異物観察 Siウェハ上のCOP・異物観察
SPI No.13
金属酸化膜のKFM観察 金属酸化膜のKFM観察
SPI No.36
SPMによる強誘電体薄膜への記録再生 SPMによる強誘電体薄膜への記録再生
SPI No.59
燃料電池への応用 燃料電池への応用
SPI No.60
鉛フリーめっき銅リードフレーム上に成長したすずウィスカ/基板の界面構造観察 鉛フリーめっき銅リードフレーム上に成長したすずウィスカ/基板の界面構造観察

 高分子
SPI No.9
SPMによる位相測定 SPMによる位相測定
SPI No.10
LB膜のVE-AFM観察 LB膜のVE-AFM観察
SPI No.11
ポリスチレン・シート上油膜のVE-AFM観察 ポリスチレン・シート上油膜のVE-AFM観察
SPI No.12
塗膜付きポリスチレン・フィルムの温度制御VE-AFM測定 塗膜付きポリスチレン・フィルムの温度制御VE-AFM測定
SPI No.14
FFM(摩擦力顕微鏡)とLM-FFM(横振動摩擦力顕微鏡)について FFM(摩擦力顕微鏡)とLM-FFM(横振動摩擦力顕微鏡)について
SPI No.15
フッ素樹脂塗膜のLM-FFM観察 フッ素樹脂塗膜のLM-FFM観察
SP INo.16
プラスチック(PBT・ABSブレンド)表面のLM-FFM観察 プラスチック(PBT・ABSブレンド)表面のLM-FFM観察
SPI No.17
ポリゴムとポリプロピレンの混合物のLM-FFM観察 ポリゴムとポリプロピレンの混合物のLM-FFM観察
SPI No.18
顔料と溶剤の混合した塗膜のLM-FFM観察 顔料と溶剤の混合した塗膜のLM-FFM観察
SP INo.19
ポリスチレンとゴムの成型品表面のLM-FFM観察 ポリスチレンとゴムの成型品表面のLM-FFM観察
SPI No.33
SPMによるアドヒージョン測定(吸着力分布測定) SPMによるアドヒージョン測定(吸着力分布測定)
SPI No.34
ポリマーブレンド試料の表面物性総合解析 ポリマーブレンド試料の表面物性総合解析
SPI No.35
走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンブロックコポリマーのモルフォロジー観察 走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンブロックコポリマーのモルフォロジー観察
SP INo.38
フリクショナルカーブによる定量的摩擦特性評価U フリクショナルカーブによる定量的摩擦特性評価U
SPI No.39
スチレン・ブタジエン・スチレンブロック共重合体のミクロ相分離構造の観察 スチレン・ブタジエン・スチレンブロック共重合体のミクロ相分離構造の観察
SPI No.40
銀フィラー入りポリイミドフィルムの温度依存性の観察 銀フィラー入りポリイミドフィルムの温度依存性の観察
SPI No.41
フイルム状高分子材料の真空下における構造変化の観察 フイルム状高分子材料の真空下における構造変化の観察
SPI No.42
走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンの結晶ラメラ観察 走査型プローブ顕微鏡によるポリプロピレンの結晶ラメラ観察
SPI No.44
ポリプロピレンブロックコポリマーのガラス転移現象その場観察 ポリプロピレンブロックコポリマーのガラス転移現象その場観察
SPI No.45
カラーネガフィルムバックコートのLM-FFM観察 カラーネガフィルムバックコートのLM-FFM観察
SPI No.46
走査型プローブ顕微鏡によるカラーネガフィルム薄膜層の観察 走査型プローブ顕微鏡によるカラーネガフィルム薄膜層の観察
SPI No.51
SPMによる高分子材料の温度スウィープ測定 SPMによる高分子材料の温度スウィープ測定
SPI No.52
押出し形成PETシートの表面転移温度測定 押出し形成PETシートの表面転移温度測定
SPI No.53
2軸延伸PETフィルムの表面移転温度測定 2軸延伸PETフィルムの表面移転温度測定
SPI No.54
温度制御型SPMを用いたポリ乳酸の結晶成長観察 温度制御型SPMを用いたポリ乳酸の結晶成長観察
SPI No.59
燃料電池への応用
−電解質膜の温度制御下および純粋中での観察−
燃料電池への応用
NPX No.4
ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics) ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics)
NPX No.23
高性能ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics) 高性能ポリイミドフィルムの表面処理評価(Nanopics)
NPX No.24
液晶配向膜成膜条件の評価(Nanopics) 液晶配向膜成膜条件の評価(Nanopics)
NPX No.25
原子間力顕微鏡(AFM)と電子顕微鏡(SEM)の画像の比較T(Nanopics) 原子間力顕微鏡(AFM)と電子顕微鏡(SEM)の画像の比較T(Nanopics)

 磁気
SPI No.20
MFM(Magnetic Force Microscope) 〜 磁気力顕微鏡の紹介 MFM(Magnetic Force Microscope) 〜 磁気力顕微鏡の紹介
SPI No.21
Moパーマロイ微粒子格子のMFM観察 Moパーマロイ微粒子格子のMFM観察
SPI No.22
ダブルコーティング・ビデオテープのMFM観察 ダブルコーティング・ビデオテープのMFM観察
SPI No.23
MFMによるパーマロイ薄膜の磁区観察 MFMによるパーマロイ薄膜の磁区観察
SPI No.24
隕石中の磁性物質のMFM観察 隕石中の磁性物質のMFM観察
SPI No.25
SPMによる液中AFM測定 SPMによる液中AFM測定
SPI No.26
Coドット及びアンチドット格子の残留磁化状態のMFM観察 Coドット及びアンチドット格子の残留磁化状態のMFM観察
SPI No.27
連結したCo円盤に生じる磁気渦のMFM観察 連結したCo円盤に生じる磁気渦のMFM観察
SPI No.28
Co細線における磁壁のピン止め状態のMFM観察 Co細線における磁壁のピン止め状態のMFM観察
SPI No.29
位相検出法による磁気力顕微鏡(MFM)測定 位相検出法による磁気力顕微鏡(MFM)測定
SPI No.30
外部磁場印加によるパーマロイ薄膜の真空中磁気力顕微鏡(MFM)測定 外部磁場印加によるパーマロイ薄膜の真空中磁気力顕微鏡(MFM)測定
SPI No.31
大型ステージユニットSPA-500によるGMRヘッドの磁気力顕微鏡(MFM)測定 大型ステージユニットSPA-500によるGMRヘッドの磁気力顕微鏡(MFM)測定
SPI No.32
大型ステージユニットSPA-500によるハードディスクの磁気力顕微鏡(MFM)測定 大型ステージユニットSPA-500によるハードディスクの磁気力顕微鏡(MFM)測定
SPI No.48
SPI4000 ActiveQ機能及び低モーメント探針による高感度、高分解能MFM SPI4000 ActiveQ機能及び低モーメント探針による高感度、高分解能MFM
SPI No.49
磁気力顕微鏡による磁性体ナノドット配列のスピン構造の観察 磁気力顕微鏡による磁性体ナノドット配列のスピン構造の観察
SPI No.50
MFM analysis of magnetization process in CoPt dot-array(英語版) MFM analysis of magnetization process in CoPt dot-array(英語版)
SPI No.55
六角格子ネットワークの高分解能MFM観察 六角格子ネットワークの高分解能MFM観察
SPI No.56
ナノ磁石中の束縛されていない単一磁壁の高分解能MFM観察 ナノ磁石中の束縛されていない単一磁壁の高分解能MFM観察
SPI No.57
単一磁壁の質量決定と低電流誘起共鳴駆動 単一磁壁の質量決定と低電流誘起共鳴駆動
SPI No.58
ナノスケール磁性体の磁区構造の神秘な世界 ナノスケール磁性体の磁区構造の神秘な世界
SPI No.61
水平磁場印加オプションによるMRAM評価への応用 水平磁場印加オプションによるMRAM評価への応用
SPI No.62
水平磁場印加オプションを使用したMFMアプリケーション 水平磁場印加オプションを使用したMFMアプリケーション

 原子像
SPI No.47
 走査型プローブ顕微鏡によるSAMの分子像観察 走査型プローブ顕微鏡によるSAMの分子像観察



走査型プローブ顕微鏡(SPM)トップページ
SIIホーム
■ 個人情報保護ポリシー   ■ サイトマップ
Copyright © 2008 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.