Seiko Instruments Inc.
検索 ホームEnglishChinese
エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社
新着情報 イベント 製品情報 技術情報 販売チャネル 企業情報 お問い合わせ
製品情報
製品一覧
熱分析(DSC, TG/DTA, TMA, DMA)
SPM(走査型プローブ顕微鏡)
集束イオンビーム(FIB)/走査イオン顕微鏡
ICP発光分光・質量分析(ICP-OES/ICP-MS)
デバイス観察/フォトマスクリペア
蛍光X線分析
膜厚測定
透過電子顕微鏡/走査電子顕微鏡(TEM/SEM)
半導体製造支援ソフトウェア(MDP)
X線検出器
プレクリニカル・イメージングシステム
価格問い合わせ
価格問い合わせフォーム
消耗品価格表
予算申請用カタログ
技術情報
販売チャネル
試験所

 走査型プローブ顕微鏡(SPM)


矢印 SPM用語集
インデックス(A〜Z):
B
G
I
J
Q
U
W
X
Y
Z
インデックス(50音):


矢印

光てこ方式 (Optical Lever Method)

光てこ方式とは、カンチレバーの背面にレーザー光を照射し、反射光の位置の変化(光路の変化)を光検出器によって検出することにより、カンチレバーのたわみ量(DIF信号)やねじれ量(FFM信号)を捉える検出方法。カンチレバーを使用する(STM以外の)SPM(走査型プローブ顕微鏡)で一般に用いられている。この方式を用いた光ヘッド部の構造の模式図を以下示す。

カンチレバー
光ヘッド部の構造(光てこ方式)

関連用語 ≫

 

 

 

走査型プローブ顕微鏡(SPM)トップページ
SIIホーム
■ 個人情報保護ポリシー   ■ サイトマップ
Copyright © 2008 SII NanoTechnology Inc. All Rights Reserved.