走査型プローブ顕微鏡（SPM）データギャラリー

射出成形品歪み

エスアイアイ･ナノテクノロジー株式会社

ジャンル	有機・高分子
モード	AFM
測定領域	800μm
ステーション	ナノピクス
装置	ナノピクス

　解説

Fig.1 射出成形品の観察結果

ナノピクスは、自己検知カンチレバーと除振機構内蔵の観察ヘッドにより、操作性を向上した卓上小型のSPMです。走査型プローブ顕微鏡としては類を見ない800×800μmまでの広域観察が可能です。Fig.1は、樹脂射出成形品のひずみを800μmの大領域走査で評価した事例です。このような光を反射しない素材の場合、光学顕微鏡による観察よりも、プローブ顕微鏡のほうが有効です。