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走査型プローブ顕微鏡（SPM）
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[No.21] Conductive AFMによる相変化ディスク記録マークの観察
[No.25] DVD-RAMの記録マークのKFM観察
[No.4] 強誘電体薄膜への記録再生
[No.27] 塗膜付きポリスチレン・フィルムの温度制御による粘弾性変化
[No.32]AFMスクラッチ加工
[No.35]マイクロレンズの高精度立体計測
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