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参考文献リスト |
【2001年】
論文 |
備考 |
T. Nishimura, S. Wakiyama, M. Yasutake, Y. Sugano, and N. Fujino: "Direct observation on a 12-in. silicon wafer using large atomic force microscopy", J. Vac. Sci. Technol. B, Vol.18, No.3 (2000) 1190-1193.
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Nanostructures, 2001.5.30 Makuhari, Chiba. 幕張SIIホールで開催された走査型プローブ顕微鏡に関する国際会議。 相変化記録マークの各種顕微鏡による比較のポスター発表予稿。 |
T.Yamaoka and T.Miyata："Quantitative measurements of Friction coefficient of Polymer surface by Scanning probe microscopy", Tokyo-2001 : SPM, Sensors and Nanostructures, Abstracts（2001）61.
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Tokyo-2001 : SPM, Sensors and Nanostructures, 2001.5.30 Makuhari, Chiba. 幕張SIIホールで開催された走査型プローブ顕微鏡に関する国際会議。 摩擦評価の方法に関するポスター発表予稿。
<関連情報>
アプリケーションブリーフ No.37
アプリケーションブリーフ No.38 |
| 山岡武博："走査型プローブ顕微鏡による試料間の定量的摩擦特性評価",月間トライボロジ, 2001年6月号, 24-27. |
摩擦評価の方法紹介。多機能型SPM "SPA400" 使用。
<関連情報>
アプリケーションブリーフ No.37
アプリケーションブリーフ No.38 |
| 大久保信明, 山岡武博："走査型プローブ顕微鏡と動的粘弾性測定によるポリプロピレンブロックコポリマーのキャラクタリゼーション", 熱測定 Vol.28, No.1（2001）38-39 |
加熱・冷却によるVE-AFM 10℃ステップでのデータ紹介。環境制御SPM "SPA-300HV"使用。
<関連情報>
アプリケーションブリーフ No.35
アプリケーションブリーフ No.44 |
| 白川部善春,新井正,高橋寛： "ピエゾ抵抗型自己検知カンチレバーの製作", 第62回応用物理学会学術講演会予稿集（2001） |
自己検知カンチレバーの開発。 |
| 伊与木誠人："近接場光を利用した光計測技術", レーザ協会誌, 第25巻第4号, (2001) |
SNOAMを測定モードごとに分類し、測定原理を説明した。また、SNOAMのアプリケーションの紹介をおこなった。 |
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