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参考文献リスト |
【2002年】
論文 |
備考 |
| T. Nishimura, M. Iyoki, S. Sadayama: "Observation of recording pits on phase-change film using a scanning probe microscope", Ultramicroscopy, 91 (2002) 119-126. |
近接場光学顕微鏡(SNOAM)や表面電位顕微鏡(KFM)などSPM技術と,集束イオンビーム(FIB)技術の一種である走査型イオン顕微鏡(SIM)により,CD-RWやDVD-RAMなどの相変化記録マークを観察。
<関連情報> SPMギャラリー No.25 |
| 宮田忠和, 山岡武博:"シリコーン処理を施した電子線硬化ポリウレタンアクリレート表面の走査型プローブ顕微鏡による摩擦力測定", 高分子論文集, Vol.59, No.7(2002)415-420. |
王子製紙との共同実験,摩擦評価の方法に関する。多機能型SPM "SPA400" 使用。
<関連情報>
アプリケーションブリーフ No.37
アプリケーションブリーフ No.38 |
高星英明, 斉藤準, 石尾俊二, 山岡武博, 岡本巌: "磁場中MFMを用いた面内磁気記録媒体における磁気クラスター観察",日本応用磁気学会誌, Vol.26, No.4(2002) 284.
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秋田大学石尾研究室との共同実験。環境制御SPM "SPA-300HV"と外部水平磁場印加オプション使用。 |
| 西村敏哉,渡辺和俊,安武正敏,長康雄: "相変化膜記録ピットの走査型非線形誘電率顕微鏡による観察",第49回応用物理学関係連合講演会予稿集(2002). |
走査型非線形誘電率顕微鏡(SNDM)によりDVD-RAMの相変化記録マークを高分解能に観察し,その他電気測定モードとの比較を行った。 |
| 石尾俊二,斉藤準, 高星英明,伊藤弘高,山岡武博:"磁気力顕微鏡を用いた磁区構造解析技術の最近の動向"日本応用磁気学会誌, Vol.26, No.10(2002) 1034. |
秋田大学石尾研究室との共同実験。環境制御SPM "SPA-300HV"と外部垂直磁場印加オプション使用。 |
|〜1999年 | 2000年 | 2001年 | 2002年 | 2003年 |
| 2004年 | 2005年 | 2006年 | 2007年 |
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