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参考文献リスト |
【2004年】
論文 |
備考 |
Eiji Saitoh, Hideki Miyajima, Takehiro Yamaoka, Gen Tatara： "Current-induced resonance and mass determination of a single magnetic domain wall",Nature 432 (2004) 203-206.
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慶応義塾大学宮島研究室との共同研究。環境制御SPM "SPA-300HV"使用。磁壁と電流の相互作用の精密な解析と,束縛の無い単一磁壁のMFM観測に関する。 2004年11月11日発行の英国科学誌Natureの"News and Views"でも報道。日経産業新聞他 多数の新聞社からも報道。
<関連情報>
アプリケーションブリーフ No.56
アプリケーションブリーフ No.57
SPMギャラリー No.23
SPMギャラリー No.24 |
| T. Yamaoka: "Applications of High-Sensitivity, High-Resolution Magnetic Force Microscopy", International Disk Forum, S6-26〜43, June 8-10, 2004. |
IDEMA JAPAN(国際ディスクドライブ協会) からの講演依頼による,SIINTのMFM技術に関する紹介。高分解能MFM,磁場印加MFMなどに関する。
<関連情報>
アプリケーションブリーフ No.48
SPMギャラリー No.17
SPMギャラリー No.26 |
| 安藤和徳,倉持宏美,蓮村聡,渡辺和俊,横山浩： "非線形誘電率顕微鏡による半導体試料のキャパシスタンス測定",表面科学,Vol.25,No.5 (2004) 296-299. |
非線形誘電率顕微鏡（SNDM)による半導体ドーパントのテストパターン解析と,真空中測定の優位性について論じた。 |
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